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X射線(xiàn)熒光光譜法-優(yōu)點(diǎn)

更新時(shí)間:2009-11-07      點(diǎn)擊次數:2428

 

X射線(xiàn)熒光光譜法-----原級X射線(xiàn)發(fā)射光譜法
首先,與原級X射線(xiàn)發(fā)射光譜法比,不存在連續X射線(xiàn)光譜,以散射線(xiàn)為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著(zhù)提高,操作簡(jiǎn)便,適合于多種類(lèi)型的固態(tài)和液態(tài)物質(zhì)的測定,并易于實(shí)現分析過(guò)程的自動(dòng)化。樣品在激發(fā)過(guò)程中不受破壞,強度測量的再現性好,以及便于進(jìn)行無(wú)損分析等。其次,與原子發(fā)射光譜法相比,除輕元素外,特征(標識)X射線(xiàn)光譜基本上不受化學(xué)鍵的影響,定量分析中的基體吸收和增強效應較易校正或克服,譜線(xiàn)簡(jiǎn)單,互相干擾比較少,且易校正或排除。

X 射線(xiàn)熒光光譜法可用于冶金、地質(zhì)、化工、機械、石油、建材等工業(yè)部門(mén),以及物理、化學(xué)、生物、地學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)等。還可用于測定涂層和金屬薄膜的厚度和組成以及動(dòng)態(tài)分析等。

在常規分析和某些特殊分析方面,包括工業(yè)上的開(kāi)環(huán)單機控制和閉環(huán)聯(lián)機控制,本法均能發(fā)揮重大作用。分析范圍包括原子序數Z≥3(鋰)的所有元素,常規分析一般用于Z≥9(氟)的元素。分析靈敏度隨儀器條件、分析對象和待測元素而異,新型儀器的檢出限一般可達10-5~10-6克/克;在比較有利的條件下,對許多元素也可以測到10-7~10-9克/克(或10-7~10-9克/厘米3),而采用質(zhì)子激發(fā)的方法,其靈敏度更高,檢出限有時(shí)可達10-12克/克(對Z>15的元素)。至于常量元素的測定,X射線(xiàn)熒光分析法的迅速和準確,是許多其他儀器分析方法難與相比的。

隨著(zhù)大功率 X射線(xiàn)管和同步輻射源的應用、各種高分辨率 X射線(xiàn)分光計的出現、計算機在數據處理方面的廣泛應用,以及固體物理和量子化學(xué)理論計算方法的進(jìn)步,通過(guò)X射線(xiàn)光譜的精細結構(包括譜線(xiàn)的位移、寬度和形狀的變化等)來(lái)研究物質(zhì)中原子的種類(lèi)及基的本質(zhì)、氧化數、配位數、化合價(jià)、離子電荷、電負性和化學(xué)鍵等,已經(jīng)取得了許多其他手段難以取得的重要結構信息,在某些方面(例如配位數的測定等)甚至已經(jīng)得到非常滿(mǎn)意的定量結果。這種研究方法具有不破壞樣品、本底低、適應范圍廣、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn),不僅適用于晶體物質(zhì)研究,而且對于無(wú)定形固體物質(zhì)、溶液和非單原子氣體也可以發(fā)揮其*的作用,可以解決X 射線(xiàn)衍射法和其他光譜、波譜技術(shù)所不能解決的一些重要難題。

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